超聲波探傷儀檢測(cè)方法按探頭數(shù)目介紹

單探頭檢測(cè)法

超聲波探傷儀使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測(cè)方法稱為單探頭法。單探頭法操作方便，可查出大多數(shù)缺陷，是目前最常用的一種檢測(cè)方法。

單探頭法檢測(cè)，對(duì)于與波束軸線垂直的面狀缺陷和立體型缺陷的查出效果最好。與波束軸線平行的面狀缺陷難以查出。當(dāng)缺陷與波束軸線傾斜時(shí)，則根據(jù)傾斜角度的大小，能夠受到部分回波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無法查出。

雙探頭檢測(cè)法

超聲波探傷儀使用兩個(gè)探頭（一個(gè)發(fā)射，一個(gè)接收）進(jìn)行檢測(cè)的方法稱為雙探頭法。主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭無法查出的缺陷。

雙探頭法又可根據(jù)兩個(gè)探頭排列方式和工作方式，進(jìn)一步分為并列式、V形串列式、K形串列式、交叉式等。

交叉式：兩個(gè)探頭軸線交叉，交叉點(diǎn)為要檢測(cè)的部位，此種檢測(cè)方法可用來發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面垂直的面狀缺陷，在焊縫檢測(cè)中，常用來發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。

串列式：兩個(gè)探頭一前一后，以相同方向放置在同一便面上，一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波經(jīng)底面反射進(jìn)入另一個(gè)探頭，此種檢測(cè)方法用來發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面垂直的片狀缺陷。這種檢測(cè)方法的特點(diǎn)是，不論缺陷是出在焊縫的上部、中部、或根部，其缺陷聲程始終相等，從而缺陷信號(hào)在熒光屏上的水平位置固定不變：上、下表面存在的盲區(qū)；兩個(gè)探頭在一個(gè)表面上沿相反的方向移動(dòng)，用手工操作較困難，需要設(shè)計(jì)專用的掃查裝置。

并列式：兩個(gè)探頭并列放置，檢測(cè)時(shí)兩者作同步同向移動(dòng)。但直探頭作并列放置時(shí)，通常是一個(gè)探頭固定，另一個(gè)探頭移動(dòng)，以便發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面傾斜的缺陷。雙晶探頭的原理，就是將兩個(gè)并列的探頭組合在一起，具有較高的分辨力和信噪比，適用于薄工件、近表面缺陷的檢測(cè)。

K形串列式：兩探頭以相同的方向分別放置于工件的上下表面上。一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波進(jìn)入另一個(gè)探頭，此種檢測(cè)方法主要用來發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面垂直的面狀缺陷。

V形串列式：兩探頭相對(duì)放置在同一面上，一個(gè)探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個(gè)探頭的入射點(diǎn)上，此種檢測(cè)方式主要用來發(fā)現(xiàn)與檢測(cè)面平行的面狀缺陷。

多探頭檢測(cè)法

超聲波探傷儀使用兩個(gè)以上的探頭組合在一起進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱為多探頭法。多探頭法的應(yīng)用，主要是通過增加聲束來提高檢測(cè)速度或發(fā)現(xiàn)各種取向的缺陷，通常與多通道自動(dòng)探傷設(shè)備配合。